【半導体】正/負ミュオンや中性子などのソフトエラーの違いをソシオネクストなどが確認
正/負ミュオンや中性子などのソフトエラーの違いをソシオネクストなどが確認著者:波留久泉
ソシオネクスト、高エネルギー加速器研究機構(KEK)、京都大学(京大)、大阪大学(阪大)、J-PARCセンターの5者は7月16日、J-PARC 物質・生命科学実験施設 ミュオン科学実験施設の正負のミュオンビーム、京大 研究用原子炉の熱中性子ビーム、阪大 核物理研究センターの高エネルギー中性子ビームをそれぞれ半導体デバイスに照射することにより、ミュオンと中性子が引き起こすソフトエラー(保持データの反転)の特徴が異なることを実験的に明らかにしたと発表した。